本文標(biāo)題："顯微結(jié)構(gòu):晶界/ 界面和材料表面計量金相顯微鏡"
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顯微結(jié)構(gòu):晶界/ 界面和材料表面計量金相顯微鏡
顯微結(jié)構(gòu)分析、晶格缺陷分析、光學(xué)與電子顯微以及X-射線
衍射方法
材料是指現(xiàn)在或不遠(yuǎn)的將來具有應(yīng)用價值的物質(zhì)，材料顯微
結(jié)構(gòu)是一個涵蓋了材料中原子排列各方面內(nèi)容的概念，要了解材
料的性能必須弄清楚醚的顯微結(jié)構(gòu)，我們所關(guān)注的大部分物質(zhì)是
晶態(tài)材料，因而，顯微結(jié)構(gòu)的概念就縮小為對晶體缺陷的描述。
顯微結(jié)構(gòu)的概念包含了一系列特定的內(nèi)容：成分的不均勻性，
材料中各組各相的含量及分布，晶粒尺寸，形狀及描述晶粒尺寸
的分布函數(shù)，晶粒（晶體）取向分布函數(shù)（織構(gòu)），晶界/ 界面
和材料表面、空位、位錯、堆垛層錯和孿生缺陷以及晶格畸變等
晶體缺陷的濃度和分布。
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